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X 射線熒光測量系統(tǒng) |
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| 型 號：X-RAY 4000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術指標：連續(xù)的在線測量和分析 |
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宜賓X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 4000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測量系統(tǒng)，涂層測厚儀原理，用于在光滑和壓�。ò◣в需T模接觸面）的軸帶生產(chǎn)過程中，覆層測厚儀，進行連續(xù)的在線測量和分析
特點
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用于在持續(xù)生產(chǎn)過程中對薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進行連續(xù)測量
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可按照樣品運動方向正確調(diào)整測量頭的角度
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操作簡單，德國尼克斯涂層測厚儀，設置時間短
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X射線探測器可以為比例計數(shù)管，西安涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
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有定位裝置，北京時代涂層測厚儀，用于測量多個位置進行測量
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根據(jù)客戶需要專門設計
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自動校準
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可以快速地從一條生產(chǎn)線上轉(zhuǎn)移到另一條生產(chǎn)線
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可方便地集成到質(zhì)量控制系統(tǒng)和過程控制系統(tǒng)中
典型應用領域
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電鍍條帶，涂層測厚儀檢定規(guī)程，例如接觸點、沖壓帶
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測量熱鍍鋅鋼帶
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太陽能薄膜電池（光伏產(chǎn)業(yè)
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薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
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電子工業(yè)及其供應商
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生產(chǎn)過程監(jiān)控
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