X 射線熒光測量系統(tǒng)，北京時代涂層測厚儀，用于在生產過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進行連續(xù)在線測量和分析    

特點

• 法蘭測量頭，涂層膜厚測試儀，用于在生產線中進行連續(xù)測量
• X射線探測器可以為比例計數(shù)管，qnix1200涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
• 在生產過程中直接用典型產品進行快速簡單校
• 可在真空或大氣中使用
• 可以在最高 500° C 的高溫基材上進行測量
• 堅固和耐用是設計的重心 

典型應用領域

• 光伏技術（CIGS，日照涂層測厚儀應用，CIS，涂層測厚儀 北京時代，CdTe）
• 分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
• 連續(xù)生產線
• 噴射和電鍍生產線監(jiān)測
• 測量大面積樣品