X射線熒光測量儀，數(shù)字涂層測厚儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金

特點

• 為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計
• 配備固定的準直器和基本慮片，德國涂層測厚儀，特別適用于貴金屬分析
• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，無損涂層測厚儀，適用于更復雜的多元素分析
• 由下至上的測量方向，涂層測厚儀epk，可以最簡便地實現(xiàn)樣品定位  

典型應用領域

• 在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析
• 牙科行業(yè)中的材料合金分析