X 射線熒光測(cè)試儀，高溫涂層測(cè)厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺(tái)和Z軸，壁厚儀，可自動(dòng)測(cè)量鍍層厚度和分析材料組分

特點(diǎn)

• 配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，油漆測(cè)厚儀價(jià)格，由于有更好的信噪比，濰坊涂層測(cè)厚儀價(jià)格，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
• 使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，電鍍層測(cè)厚儀，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，涂層測(cè)厚儀圖片，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)  
• 底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
• 有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
• 來料檢驗(yàn)，儀器儀表類，生產(chǎn)監(jiān)控
• 研究和開發(fā)
• 電子工業(yè)
• 接插件和觸點(diǎn)
• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
• 可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，涂層測(cè)厚儀維修，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
• 硬質(zhì)鍍層分析