西寧庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀-GalvanoTest 3000-德國(guó)EPK
GalvanoTest 2000是基礎(chǔ)型號(hào)，穿透涂層測(cè)厚儀，無(wú)需其他任何附件測(cè)量各種涂層/底材組合�；谑褂梅奖愕脑O(shè)計(jì)，該型號(hào)通常被推薦用于多層測(cè)量。
倘若用GalvanoTest 3000測(cè)量更方便。其測(cè)量支架集成電解泵，涂層測(cè)厚儀的保養(yǎng)，可全自動(dòng)移除和補(bǔ)充電解液，并且易于更換電解池，使電解液像填充物一樣可以大批量的用做去鍍處理�？梢再�(gòu)買另外的電解池給不同的電解液用，在多層測(cè)量時(shí)快速切換。3000型的進(jìn)一步優(yōu)勢(shì)：即使0.25m㎡的小面積，也可以輕松測(cè)量沒用問(wèn)題。
GalvanoTest庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀2000型和3000型在功能上的區(qū)別
1) GalvanoTest 2000是用氣泵，GalvanoTest 3000是循環(huán)泵;
2) GalvanoTest 2000可設(shè)置10種金屬的測(cè)量參數(shù)，GalvanoTest 3000可設(shè)置18種金屬的測(cè)量參數(shù);
3) GalvanoTest 2000可測(cè)量8 m㎡，d4涂層測(cè)厚儀，但不能測(cè)0.25 m㎡的面積，果歐涂層測(cè)厚儀，GalvanoTest 3000反之;
4) GalvanoTest 2000不具有電解液飽和報(bào)警指示，GalvanoTest 3000具有該功能。
• 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層
• 利用庫(kù)侖電量分析原理，測(cè)量鍍層、多層鍍層
• 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GALVANOTEST 可以測(cè)量
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2000
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3000
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可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合
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可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層
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可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
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預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金（需提供樣品確定）
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預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
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用戶可另設(shè)置8種金屬的測(cè)量參數(shù)
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用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量機(jī)構(gòu)：
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帶循環(huán)泵
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帶氣泵
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量面積：
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密封墊 8 mm2
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密封墊 4 mm2
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密封片 1 mm2
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密封片 0.25 mm2（涂鍍層面積幾乎小得看不見）
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電解杯 0.25-16 mm2 （可選件）
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀測(cè)量參數(shù)最優(yōu)化調(diào)整：
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除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)
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根據(jù)金屬和測(cè)量表面可直接調(diào)整系數(shù)
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可用厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn)
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可調(diào)整終點(diǎn)電壓，以抗干擾，菲希爾涂層測(cè)厚儀，適應(yīng)鍍層/基體之間的合金
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GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
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可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目
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10
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18
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可存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
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2000
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2000
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儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀統(tǒng)計(jì)計(jì)算：
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顯示6種統(tǒng)計(jì)值：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、最大、最小值、讀數(shù)個(gè)數(shù)
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立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值
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立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
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顯示、打印年、月、日、時(shí)、分
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用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口：
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MINIPRINT 微型打印機(jī)接口
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RS-232，筆式涂層測(cè)厚儀，PC計(jì)算機(jī)接口
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連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口
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電解液飽和報(bào)警指示
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測(cè)量的不確定性：
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5%，fisher涂層測(cè)厚儀，在8mm2面積下，濟(jì)南涂層測(cè)厚儀培訓(xùn)，經(jīng)校準(zhǔn)
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庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀電源：
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110/220V，涂層測(cè)膜儀，50/60HZ，涂層測(cè)厚儀使用說(shuō)明書，10W
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測(cè)量范圍：
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最大測(cè)量范圍：0.05-75μm
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