X 射線熒光測試儀，鋅層測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，涂層測厚儀價格，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分

特點(diǎn)

• 配備了半導(dǎo)體探測器，涂層測厚儀圖片，由于有更好的信噪比，涂層測厚儀的使用方法，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
• 使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，麥考特涂層測厚儀，但因?yàn)槠湫盘柫枯^低，分體式涂層測厚儀，不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)  
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 有彈出功能的快速、可編程XY平臺

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
• 來料檢驗(yàn)，一體式涂層測厚儀，生產(chǎn)監(jiān)控
• 研究和開發(fā)
• 電子工業(yè)
• 接插件和觸點(diǎn)
• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
• 可以測量數(shù)納米薄的鍍層，鉻層測厚儀，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
• 硬質(zhì)鍍層分析