高性能X射線熒光測(cè)試儀，涂層測(cè)厚儀原理，配有可編程XY平臺(tái)和Z軸，電子涂層測(cè)厚儀，可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素

儀器特點(diǎn)

• 高級(jí)型號(hào)儀器，一體式涂層測(cè)厚儀，具有常見的所有功能
• 射線激發(fā)量的靈活性最大，分體式涂層測(cè)厚儀，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
• 通過(guò)硅漂移探測(cè)器，儀器儀表類，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作，鐵基涂層測(cè)厚儀，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
• 極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
• 帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
• 大容量便于操作的測(cè)量艙

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測(cè)量極薄的鍍層，牛津涂層測(cè)厚儀，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
• 痕量分析，涂層測(cè)厚儀器，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
• 進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
• 光伏產(chǎn)業(yè)
• 測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分