高性能X射線熒光測試儀，涂層測厚儀器，配有真空室，涂層測厚儀 epk，適用于材料無損分析

特點

• 通用型高級儀器，qnix涂層測厚儀，可滿足各種測量需要
• 測量艙可以抽真空，涂層膜厚測試儀，并可以對自 Z = 11（Na）起的輕元素進行分析
• 精確的、可編程的 XYZ 工作臺用于自動測量
• 攝像頭用于樣品精確定位以及在細小部位上進行測量

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 輕元素的測量分析
• 薄鍍層測量和痕量分析
• 通用材料分析及鑒定
• 非破壞性寶玉石分析
• 光伏產(chǎn)業(yè)