X 射線熒光測試儀，涂層測厚儀 說明書，配有多毛細孔 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，涂層測厚儀的使用方法，可自動測量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。

XDV-u鍍層厚度測量儀特點

• 優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器
• 根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，涂層激光測厚儀，可以對100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進行分析
• 極高的能量強度，涂鍍層測厚儀，從而實現(xiàn)出色的精度
• 即使對于薄鍍層，標(biāo)線涂層測厚儀，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
• 只適用于平面的或是接近平面的樣品
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量

XDV-u鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
• 測量細小部件和細電線上的鍍層系統(tǒng)
• 分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分