本標準適用于碳鋼和低合金鋼鑄件內(nèi)部質(zhì)量的超聲檢驗。其內(nèi)容包括探測方法和質(zhì)量分級規(guī)定。
本標準等效采用ASTM工A609--80《碳鋼和低合金鋼鑄件的超聲波檢驗》。
1定貨要求
1.1需方應向制造廠明確提出如下要求:
1.1.1整個鑄件或鑄件的某些部分的質(zhì)量等級;
1.1.2鑄件要縱波檢測的部位;
1.1.3除縱波檢查外,要用雙晶探頭對鑄件近表面進行較嚴格檢查的部分和檢測深度;
1.1.4鑄件經(jīng)制造廠同意按附錄A作補充檢測的部位;
1.1.5對上述各款的其他附加要求。
2鑄件要求
2.1在超聲檢測之前,鑄件應至少進行一次奧氏體化熱處理。
2.2鑄件探傷表面應沒有影響超聲檢測的物質(zhì),已加工表面應達到△4以上光潔度,未加工表面需要打磨平滑。
2.3妨礙超聲檢查的機加工應在檢測后進行。
3儀器設(shè)備
3.1采用脈沖反射式超聲探傷儀,其探傷性能必須滿足JB 1834《A型脈沖反射式超聲波探傷儀技術(shù)條件》的要求,頻率范圍為1--5MHz。
3.2雙晶探頭適用的探測范圍是從最高靈敏度到下降至6dB的一段距離范圍內(nèi)。對于25mm以內(nèi)的深度建議用12°夾角。
3.3直探頭晶片為12--28mm,探頭應在標稱頻率下使用。為了保持與工件良好接觸,建議使用軟膜探頭。
3.4為了精確判定缺陷,也可用其他規(guī)格的直探頭和雙晶探頭。
3.5參考試塊應由鑄鋼制成,其超聲特性類似于被檢鑄件。直探頭用的基本參考試塊,其形態(tài)應如圖1所示,其尺寸列于表1。當檢驗的截面厚度超過250mm時,要制作最大試驗厚度的附加試塊來補充本試塊。
3.6雙晶探頭用參考試塊應如圖2所示,其尺寸見表2。
3.7耦合劑采用機油和其他聲阻抗合適的物質(zhì)。
表 1 mm
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孔 徑
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金屬距離B
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總 長C
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直 徑D
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編 號
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Φ6
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25
50
75
150
250
B
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45
70
95
170
270
B+20
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50
50
50
75
100
125
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CSZ--1
CSZ--2
CSZ--3
CSZ--4
CSZ--5
CSZ--6
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表 2 mm
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孔徑
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2.5
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2.5
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2.5
|
2.5
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2.5
|
2.5
|
2.5
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2.5
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孔深h
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47
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44
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38
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32
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26
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20
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14
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8
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金屬距離
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3
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6
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12
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18
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24
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30
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36
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42
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4探傷方法和部位
4.1一般以縱波垂直反射法進行,必要時可用橫波法幫助判定缺陷。在規(guī)定用雙晶探頭探傷的部位,用雙晶探頭探傷。
4.2探傷位置由圖紙或有關(guān)技術(shù)文件規(guī)定。
5探傷操作要求
5.1為使缺陷不漏檢,探頭移動速度不得大于150mm/s,每次掃查至少要疊壓換能器寬度或直徑的15%。
5.2當工件表面比試塊表面粗糙時,應補償聲能損失。聲能損失的測量如下:首先在鑄件上選擇一處或幾處內(nèi)部良好部位為測量點。這些測量點的表面光潔度應能基本代表其他部位的光潔度,并且在測量點處的探測面和底面應是平行的。然后選擇一厚度同測量點處的鑄件厚度基本一致的試塊校準儀器。當測量點的底反射同試塊的底反射一致時,讀出的兩者分貝差就是聲能損失值。采用這種方法,在鑄件上的檢驗靈敏度可以預計在試塊靈敏度的±30%以內(nèi)或更小一些。
5.3進行缺陷記錄時,采用作距離振幅校正線的方法,凡高于距離振幅校正線的應予記錄。作距離振幅校正線的方法如下:采用一組厚度范圍包括被檢鑄件厚度的參考試塊,在熒光屏上或坐標紙上標記出各平底孔的反射波高點,劃一條線,這條線就是距離振幅校正線。
5.4當對鑄鋼件的探測面同底面平行的區(qū)域進行縱波檢查時,要重新檢查底回波降低75%以上(含75%)的區(qū)域。來確定這是不是由于接觸不良、耦合劑不足或缺陷方向不利等引起的。如果反射回波損失的理由不明,就要認為這個區(qū)域是有問題的,并應進一步加以研究。
6探傷人員要求
6.1探傷人員必須熟悉如下各項:
a.本標準及本標準所涉及的有關(guān)標準;
b.儀器校正;
c.換能器的材料、尺寸、頻率和類型對試驗結(jié)果的影響;
d.檢驗距離和非線性對試驗結(jié)果的影響;
e.鑄件表面情況和內(nèi)部組織以及缺陷情況對試驗結(jié)果的影響。
6.2探傷人員必須有相應的無損檢測人員資格證書。
7驗收標準
7.1超聲探傷的驗收標準應以鑄件的使用條件、大小、形狀、成分、缺陷的情況以及在實際生產(chǎn)中鑄件通常能達到的質(zhì)量為基礎(chǔ)。驗收標準應在有關(guān)技術(shù)文件或圖紙中指出。
7.2應采用表3中的任一等級作為驗收標準。
7.3驗收質(zhì)量等級應由供需雙方按下列判斷標準之一條或幾條為基礎(chǔ)來制定。
7.3.1在表3中的質(zhì)量等級規(guī)定的面積內(nèi),底波反射低于距離振幅校正曲線。
7.3.2在表3中的質(zhì)量等級規(guī)定的面積內(nèi),測得由缺陷引起的底波衰減小于75%(含75%)。
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